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Les systèmes pour la mesure ou le calcul du Produit*Surface (PDS) en radiologie : étalonnage, utilisation et exploitation des résultats.


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40ème Journées scientifiques de la Société française de physique médicale (SFPM). Nantes (44), 6-8 juin 2001.

Type de document > *Congrès/colloque

Mots clés > radiologie

Unité de recherche > Surveillance de l'exposition médicale et professionnelle (SEMP)

Auteurs > [et al.], BIAU Alain, CALE Eric, VALERO Marc

Date de publication > 06/08/2001

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