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I. Duhamel, J.M. Gomit (IRSN, France) Y.K. Lee (CEA Saclay, France) C. Venard (CEA Cadarache, France) -ICNC03, 5-9/10/03, Tokai Mura, Japon

Type de document > *Congrès/colloque

Mots clés > criticité, criticité

Unité de recherche > IRSN/DSU/SEC

Auteurs > GOMIT Jean-Michel, KNEMP Xavier

Date de publication > 18/03/2004

Résumé